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X射线荧光分析系统

X射线荧光分析系统

仪器名称

X射线荧光分析系统(物质区域中心)

   

非标

仪器编号

ihepBSRF-4W1B-XRF

仪器来源

国家实验室

生产厂商

中国

启用日期

20091116

仪器类别

化学元素分析仪器

仪器原值

11250000

所在单位部门

中国科学院高能物理研究所北京同步辐射装置

仪器负责人

徐伟

联系电话

010-88235156

     

北京市石景山区玉泉路19号乙院

   

100049

E-mail

xuw@ihep.ac.cn

主要技术指标

可进行荧光微区扫描,X射线单色能量为15keV; 扫描分辨率50微米,痕量元素分析,灵敏度达ppm

包含主要附件

仪器主要功能

元素无损X射线分析

仪器服务领域

环境、生物、食品、考古、地质类样品元素荧光分析

计量认证资质

实验室认可

仪器现状

正常

收费标准

免费

仪器图片

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