X射线微纳米成像系统

仪器名称

X射线微纳米成像系统（物质区域中心）

型    号

非标

仪器编号

ihepBSRF-4W1A-TOP

仪器来源

中国

生产厂商

中国

启用日期

2008/8/31

仪器类别

物理性能测试仪器

仪器原值

2500000

所在单位部门

中科院高能物理研究所同步辐射室

仪器负责人

黄万霞

联系电话

010-88235990

地      址

北京市玉泉路19号乙中科院高能物理研究所12厅

邮    编

100049

E-mail

huangwx@ihep.ac.cn

主要技术指标

分辨率优于50nm

包含主要附件

探测器、波带片、聚焦镜

仪器主要功能

测试纳米分辨三维结构

仪器服务领域

半导体、生物医学、材料学

计量认证资质

否

实验室认可

是

仪器现状

正常

收费标准

免费

仪器图片