透射电子显微镜JEM-2010
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仪器名称 |
透射电子显微镜JEM-2010 |
型 号 |
JEM-2010 |
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仪器编号 |
EM137139-84 |
仪器来源 |
购置 |
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生产厂商 |
日本JEOL公司 |
启用日期 |
2001-02-26 |
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仪器类别 |
材料显微结构测试仪器 |
仪器原值 |
2456100.00 |
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所在单位部门 |
中科院化学研究所-分析测试中心电镜组 |
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仪器负责人 |
关波 |
联系电话 |
010-62588935 |
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地 址 |
北京市海淀区中关村北一街2号 |
邮 编 |
100080 |
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主要技术指标 |
最高加速电压
：200
kV 点分辨率
： 0.23
nm |
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包含主要附件 |
双轴倾斜样品台、冷冻样品台、能谱、CCD图像采集系统 |
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仪器主要功能 |
可对样品进行高分辨成像，对晶体材料可给出相应的衍射花样，应用冷冻样品台可实现低温观测样品，附件能谱可对样品实施半定量分析(B～U) |
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仪器服务领域 |
适用于化学、物理、地质、生物、医学等领域中陶瓷、金属、半导体、高分子、生物医学等材料的微观结构及成分分析 |
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计量认证资质 |
否 |
实验室认可 |
否 |
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仪器现状 |
正常 |
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收费标准 |
400元/小时 |
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仪器图片 |
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